光电编码器测速方法主要有哪些？光电编码器和磁电编码器的区别有哪些？

光电编码器测速方法有哪些

光电编码器的测速方法有三种，分别是M法，即位置差分法，测量脉冲数来测速;T法，即定角测时法，测量脉冲的时间间隔来测速，还有结合两种方法的M/T测速法。

1、位置差分法(M法)

设脉冲发生器每转一圈发出的脉冲数为P，且在规定的时间Tg(s)内，测得的脉冲数为m1，则电机每分钟转数：nm=60*m1/(P*Tg)(r/min)(技术指标：a、分辨率：Q=60*(m1+1)/(P*Tg)-60*m1/(P*Tg)=60/(P*Tg);b、测量精度：在极端情况下会产生正负1个转速脉冲的检测误差，相对误差为1/m1;c、检测时间：Tg=PQ)

这种测速方法固定采样周期测量，实现起来简单易行，在高速测量时，有较好的速度平稳性及较高的测量精度;不过M法在低速时会出现速度波动幅度大，平稳性差，且随着采样频率的提高，所测得的低速范围会变窄，测速精度也会随之下降。

2、定角测时法(T法)

通过测量编码器相邻两个脉冲的时间间隔来确定被测速度的方法，用一已知频率为fc的高频时钟频率向一计时器发送脉冲数，此计时器由测速脉冲的两个相邻脉冲控制其起始和终止。若计数器的读数为m2，则电机每分钟的转数为nm=60*fc/(P*m2)(r/min)(fc是时钟脉冲频率;m2是计数器对时钟脉冲频率f的脉冲计数值)。

3、M/T法

M/T测速法是结合两种测速方法得到的，即低速时用T法，高速时用M法。

光电编码器和磁电编码器的区别

是由一个中心有轴的光电码盘，其上有环形通、暗的刻线，有光电发射和接收器件读取并获得信号的一类传感器，主要用来测量位移或角度。

传统的光电编码器码盘的材料有玻璃、金属、塑料，玻璃码盘是在玻璃上沉积很薄的刻线，其热稳定性及精度可以达到普通标准、一般要求，但容易碎。金属码盘直接以通和不通刻线，不易碎，但由于金属有一定的厚度，精度就有限制，其热稳定性就要比玻璃码盘差一个数量级。塑料码盘是经济型的，其成本低，精度和耐高温达不到高要求。

而磁电式编码器采用磁电式设计，通过磁感应器件、利用磁场的变化来产生和提供转子的绝对位置，利用磁器件代替了传统的码盘，弥补了光电编码器的这一些缺陷，更具抗震、耐腐蚀、耐污染、性能可靠高、结构更简单。

光电编码器是通过在码盘上刻线来计算精度，所以精度越高，码盘就会越大，编码器体积越大，并且精度也不是连续的。磁电式编码器则没有这样的限制，可以做到体积很小，精度高，特别是绝对值编码器要求精度高，更适合用磁电编码器。

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